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少子壽命:≥1000us
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電阻率:0.3-2.1Ω.cm
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碳含量:≤0.5×1017atoms/cm3
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氧含量:≤6.0×1017atoms/cm3
材料特性
項目 | 規(guī)格 | 檢測方法 |
---|---|---|
生長方式 | CZ | / |
晶體晶向 | <100>±3° | X射線衍射定向法 |
導(dǎo)電類型 | N型 | P/N型測試儀 |
位錯密度/cm2 | ≤500 | X射線衍射儀(ASTM F26-1987) |
項目 | 生長方式 | |
規(guī)格 | CZ | |
檢測方法 | / | |
項目 | 晶體晶向 | |
規(guī)格 | <100>±3° | |
檢測方法 | X射線衍射定向法 | |
項目 | 導(dǎo)電類型 | |
規(guī)格 | N型 | |
檢測方法 | P/N型測試儀 | |
項目 | 位錯密度/cm2 | |
規(guī)格 | ≤500 | |
檢測方法 | X射線衍射儀(ASTM F26-1987) |
電性能
項目 | 規(guī)格 | 檢測方法 |
---|---|---|
氧含量 | ≤6.0×1017atoms/cm3 | 傅里葉變換紅外光譜儀 |
碳含量 | ≤0.5×1017atoms/cm3 | 傅里葉變換紅外光譜儀 |
電阻率 | 0.3-2.1Ω.cm | 硅片自動檢測設(shè)備 |
少子壽命 | ≥1000us | Sinton BCT-400 QSSPC準穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)衰減法 Transient瞬態(tài)光電導(dǎo)衰減法 (with injection level: 1E15 cm-3) |
項目 | 氧含量 | |
規(guī)格 | ≤6.0×1017atoms/cm3 | |
檢測方法 | 傅里葉變換紅外光譜儀 | |
項目 | 碳含量 | |
規(guī)格 | ≤0.5×1017atoms/cm3 | |
檢測方法 | 傅里葉變換紅外光譜儀 | |
項目 | 電阻率 | |
規(guī)格 | 0.3-2.1Ω.cm | |
檢測方法 | 硅片自動檢測設(shè)備 | |
項目 | 少子壽命 | |
規(guī)格 | ≥1000us | |
檢測方法 | Sinton BCT-400 QSSPC準穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)衰減法 Transient瞬態(tài)光電導(dǎo)衰減法 (with injection level: 1E15 cm-3) |